光传感器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明的光传感器中的发光元件(10)和受光元件(3)在薄膜衬底(1)上彼此隔开预定距离。光电二极管(PD)装在包括在发光元件中的发光二极管(LED1，LED2)附近。该光电二极管检测发射光量的变化。CPU(16)通过控制流过发光元件的电流来校正随发光元件温度变化的光量变化。至少在发光二极管(34)或光电二极管(31)之一附近设置热敏电阻(37)及加热器(39)。CPU(43)响应对热敏电阻输出的检测结果而控制加热器电流以便至少使发光元件或受光元件之一的温度保持不变。
基本信息
专利标题 ：
光传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1044216A
申请号 ：
CN90100327.1
公开（公告）日 ：
1990-08-01
申请日 ：
1990-01-17
授权号 ：
CN1019051B
授权日 ：
1992-11-11
发明人 ：
神田昌彦
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
何耀煌
优先权 ：
CN90100327.1
主分类号 ：
G01J1/32
IPC分类号 ：
G01J1/32 A61B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/10
采用与基准光或基准电参数相比较的方法
G01J1/20
改变被测的或基准值的强度，使它们在检测器产生相等的效应，例如通过改变入射角
G01J1/28
利用光源的强度或距离的改变
G01J1/30
采用电辐射检测器
G01J1/32
用于被测值或基准值的自动变化
法律状态
1998-03-11 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1993-08-18 ：
授权
1992-11-11 ：
审定
1991-11-27 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1990-08-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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