用反射光测定对接光导中光损耗的方法
视为撤回的专利申请
摘要
本发明的目的是在由K个对接成光路的光导中，勿须分开这些光导而通过在任意的第i个光导中创造确定光损耗的可能以提高其多能性。其措施是，经过空心光导将探测用的脉冲引入被测光导，测量由光导的入射端出射端以及最后一个光导入射端的空气间隙和最后一个光导的端面反射的脉冲能量或总功率Ni-1；和Ni，i+1，并根据数学公式确定并非最后一个的任何一个光导以及最后一个光导单位长度上的光损耗μi和μk。
基本信息
专利标题 ：
用反射光测定对接光导中光损耗的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1045180A
申请号 ：
CN90100986.5
公开（公告）日 ：
1990-09-05
申请日 ：
1990-01-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
米哈依尔·阿历克赛得洛维奇·布克赫西他巴
申请人 ：
中央通讯科学研究所列宁格勒分所
申请人地址 ：
苏联列宁格勒
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
颜承根
优先权 ：
CN90100986.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
1992-11-04 ：
视为撤回的专利申请
1990-09-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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