测量实体截面图的超声系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一套测定具有两个相对表面物体横截面图的系统由以下几部分组成：具有参考面的超声波传感器；厚度测量装置，使传感器发射和接收超声波能量，确定参考面与反射面之间的距离；支撑传感器的支架；使支架沿直线路径运动的导向装置；位置测定装置，可确定支架相对于参考点的位置；将导向装置固定在物体上的部件；信号处理装置，相应于支架的位置产生相对面之间的距离指示。
基本信息
专利标题 ：
测量实体截面图的超声系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1050085A
申请号 ：
CN90107464.0
公开（公告）日 ：
1991-03-20
申请日 ：
1990-09-04
授权号 ：
CN1024945C
授权日 ：
1994-06-08
发明人 ：
迈克尔·约瑟夫·米塔拉李·韦恩·伯特内尔迈克尔·弗朗西斯·费尔
申请人 ：
西屋电气公司
申请人地址 ：
美国宾夕法尼亚州
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
冯赓宣
优先权 ：
CN90107464.0
主分类号 ：
G01B15/04
IPC分类号 ：
G01B15/04 G01N29/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/04
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2002-10-30 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-04-24 ：
其他有关事项
1994-06-08 ：
授权
1992-11-18 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1991-03-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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