激光衍射式粒度分布测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型是关于激光衍射式粒度分布测试仪。其计算机系统既可采用单板机或单片机或系统机组成普及型机种，并可使这种普及型机种与高一级计算机联机组成该仪器的高档型机种。该粒度分布测试仪在3-5分钟就可快速的测出分别以体积、面积、直径为基准的粒度分布、累积50％粒径，比表面积、平均粒径。具有多种量程，其测量范围可达0.7～300μm，适用于一切有机和无机粉末样品，并能对干的粉末试样进行测试，具有操作简便、造价低廉的优点。
基本信息
专利标题 ：
激光衍射式粒度分布测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90214729.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-07-03
授权号 ：
CN2100623U
授权日 ：
1992-04-01
发明人 ：
周定益
申请人 ：
四川省轻工业研究所
申请人地址 ：
610081四川省成都市白马寺十九号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN90214729.3
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1998-08-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1995-11-01 ：
专利权有效期的续展(依据修改前的专利法第45条)
1992-12-16 ：
授权
1992-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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