射线片三维检测仪
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本实用新型是一种射线片三维检测仪，该仪根据体视再现效应的光学原理利用被测物的一对象片对工件内部缺陷实现立体观察和三维测量，该仪具有底座1，在底座上设有一个总滑床2和它的驱动机构3，在总滑床上设有小滑床4和它的驱动机构5及其移动标尺6，在小滑床和总滑床的右半部分别设有左、右象片盘8、9，在两个象片盘上方中间位置设有十字滑尺10，在左、右象片盘的上方各设一个测标线12，在象片盘的最上方设有光学系统7。
基本信息
专利标题 ：
射线片三维检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90218257.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-08-19
授权号 ：
CN2080178U
授权日 ：
1991-07-03
发明人 ：
刘发鸿杜玉金韩和平
申请人 ：
西北纺织工学院;陕西机械学院;能源部西安热工研究所
申请人地址 ：
710048陕西省西安市西北纺织工学院
代理机构 ：
陕西省发明专利服务中心
代理人 ：
陈小霞
优先权 ：
CN90218257.9
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
1996-04-10 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1992-03-04 ：
授权
1991-07-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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