交变纵向磁场塞曼效应测汞仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种改进的塞曼效应测汞仪，即交变纵向磁场塞曼效应测汞仪。它可以广泛用于冶金、地质、环保、防疫、商检、化工等部门对微量汞进行直接取样测定。其改进之处是：使汞特征普线发生塞曼分裂的装置由交流电磁铁和汞放电灯构成，交流电磁的两磁极彼此相对，其中有一磁极的中心开有一透光的锥形孔，小孔朝向另一磁极，大孔朝向聚光透镜，汞放电灯置于两磁极之间，并对准磁极上的锥形孔，其光轴方向与磁力线平行。
基本信息
专利标题 ：
交变纵向磁场塞曼效应测汞仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN90218473.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1990-08-21
授权号 ：
CN2084617U
授权日 ：
1991-09-11
发明人 ：
何长一李贵学
申请人 ：
何长一;刘毓柯
申请人地址 ：
650011云南省昆明市园西路5号昆明冶金研究所
代理机构 ：
中国科学院昆明专利代理处
代理人 ：
朱晓琪
优先权 ：
CN90218473.3
主分类号 ：
G01N21/65
IPC分类号 ：
G01N21/65 G01N27/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/65
喇曼散射
法律状态
1994-07-06 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-06-10 ：
授权
1991-09-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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