光纤干涉传感器
实质审查请求的生效
摘要
一种光纤干涉测量系统包括一对具有远端和近端的单模、保偏光纤。将该光纤之一所选择部分的包层除去以允许在该光纤内传输的光波的瞬逝部分与该光纤所选择部分周围的任意介质相互作用。将用以产生已知特性光的光源与该对光纤的近端相耦合以将光源信号导入该对光纤。在光纤远端的反射器将光从远端反射回光源。返回信号构成用来进行观察以检测对光信号相位任意调制的干涉图。以比率测量方式分析该调制从而基本没有环境所致相位噪声地获得在所选择部分周围的介质的折射率变化。
基本信息
专利标题 ：
光纤干涉传感器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1055061A
申请号 ：
CN91101801.8
公开（公告）日 ：
1991-10-02
申请日 ：
1991-03-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
戴维·利普森尼古拉斯·加斯顿洛贝尔
申请人 ：
伊莱利利公司
申请人地址 ：
美国印第安纳州
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
郭伟刚
优先权 ：
CN91101801.8
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45 G01D5/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
1993-07-07 ：
实质审查请求的生效
1991-10-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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