磁卡测试仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明采用写频可变的时钟与码型产生电路，可以在磁卡上写任何位密度的测试码型，适用于各种类型的磁卡检测。它是保证磁卡生产质量和可靠性，按国际磁卡生产标准生产的重要手段。本发明功能齐全，测试精度高，重复性好，使用方便，数据结果准确，测试时间快和成本低等特点。
基本信息
专利标题 ：
磁卡测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1066743A
申请号 ：
CN91103160.X
公开（公告）日 ：
1992-12-02
申请日 ：
1991-05-10
授权号 ：
CN1026367C
授权日 ：
1994-10-26
发明人 ：
周敬利余胜生徐有青倪浆铭黄益森
申请人 ：
华中理工大学
申请人地址 ：
430074湖北省武汉市珞喻路151号
代理机构 ：
华中理工大学专利事务所
代理人 ：
周都刚
优先权 ：
CN91103160.X
主分类号 ：
G11B5/80
IPC分类号 ：
G11B5/80 G11B25/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B5/00
借助于记录载体的激磁或退磁进行记录的；用磁性方法进行重现的；为此所用的记录载体
G11B5/74
按形状区分的记录载体，例如，沿圆筒缠绕成形的片材
G11B5/80
卡片状载体
法律状态
1996-06-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1994-10-26 ：
授权
1993-03-31 ：
实质审查请求的生效
1992-12-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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