外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量方法及其装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及一种外差干涉仪的信号处理新方法，即相位和相位整数测量法。本发明采用了相位测量技术和超过2π相位变化的相位整数测量技术。包括数字相位调制方法，即将两路频率信号的相位转换成为一个调宽信号，还包括超过2π相位变化的相位整数测量方法，即由相位调制输出的调宽信号，经过整数相位测量电路，产生被测相位差周期数变化的信号，从而实现相位的测量。本发明具有分辨率高，测量范围大和动态信号处理等功能。
基本信息
专利标题 ：
外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量方法及其装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1055820A
申请号 ：
CN91103615.6
公开（公告）日 ：
1991-10-30
申请日 ：
1991-06-05
授权号 ：
CN1024593C
授权日 ：
1994-05-18
发明人 ：
赵洋李达成曹芒王佳
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
罗文群
优先权 ：
CN91103615.6
主分类号 ：
G01R25/00
IPC分类号 ：
G01R25/00 G01B9/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R25/00
测量一个电压与一个电流之间的相位角或者电压之间或电流之间的相位角的装置
法律状态
1995-07-26 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1994-05-18 ：
授权
1991-10-30 ：
公开
1991-10-02 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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