一种新型的固体表面分析仪器
专利申请的视为撤回
摘要
一种新型的固体表面分析仪器，它是以获取和分析固体样品表面的负离子谱以达到研究固体材料及其表面，和在固体表面发生的各种物理、化学过程，以及样品周围的气氛环境的目的。它不仅能够从负离子谱得到现有的原子探针(Atom Probe)所不能够得到的信息，而且降低了样品上所需的工作电压约十倍，使实验结果摆脱了外加高场的影响，并扩大了可研究材料的范围；与后者相结合，能获取更丰富的研究信息。
基本信息
专利标题 ：
一种新型的固体表面分析仪器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1068892A
申请号 ：
CN91104966.5
公开（公告）日 ：
1993-02-10
申请日 ：
1991-07-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘武任多敏黄光明胡秉谊刘立民
申请人 ：
华中师范大学
申请人地址 ：
430070湖北省武汉市武昌桂子山
代理机构 ：
华中师范大学专利事务所
代理人 ：
张昌旭
优先权 ：
CN91104966.5
主分类号 ：
G01N30/00
IPC分类号 ：
G01N30/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N30/00
利用吸附作用、吸收作用或类似现象，或者利用离子交换，例如色谱法将材料分离成各个组分，来测试或分析材料
法律状态
1995-05-31 ：
专利申请的视为撤回
1993-02-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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