测定冲击试样缺口显微镜
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要

本实用新型提供一种快速准确地确定冲击试样缺口尺寸是否符合国家标准的测定冲击试样缺口显微镜。属于光学测量仪器,其特征是,在镜头部分中制作装入能够比对测定五种冲击试样缺口尺寸的尺寸公差带上分划板。镜头支承部分由底座、立柱和悬臂固结组合构成,比对测定调距部分由转动丝杠手轮、转动两个螺杆、转动平台实现,本新型解决了长期存在的测定冲击试样缺口尺寸的困难,使用之可较大地提高材料抗冲击性能试验数据的真实可靠性。

基本信息
专利标题 :
测定冲击试样缺口显微镜
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN91202073.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
1991-02-02
授权号 :
CN2089171U
授权日 :
1991-11-20
发明人 :
牟艳旗程佐玉
申请人 :
程佐玉;牟艳旗
申请人地址 :
132011吉林省吉林市计量检定测试所江南大街32号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN91202073.3
主分类号 :
G01N3/30
IPC分类号 :
G01N3/30  G02B21/32  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/18
••在高温或低温下进行试验
G01N3/30
用一次冲击力
法律状态
1996-03-20 :
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-07-15 :
授权
1991-11-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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