含有多个磁体的磁微粒基发光测定的方法和装置

专利权的终止

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摘要

本申请公开并且要求保护通过电极测定电致化学发光对样品中存在的有意义的分析物进行结合测量的方法和装置。所述方法采用磁性感应颗粒。本发明的方法和装置需要产生磁场的多个南北向电磁体或永久磁体用于收集颗粒。

基本信息

专利标题：

含有多个磁体的磁微粒基发光测定的方法和装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1065339A

申请号：

CN92101900.9

公开（公告）日：

1992-10-14

申请日：

1992-02-07

授权号：

CN1107863C

授权日：

2003-05-07

发明人：

Ｊ·Ｋ·利兰Ｈ·Ｐ·沙Ｊ·Ｈ·肯滕Ｊ·Ｅ·古德曼Ｇ·Ｅ·洛克难波勇三郎Ｇ·Ｆ·布莱克本Ｒ·Ｊ·梅西

申请人：

伊根有限公司;卫材株式会社

申请人地址：

美国马利兰州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

曹恒兴

优先权：

CN92101900.9

主分类号：

G01N21/66

IPC分类号：

G01N21/66 G01N33/53

相关图片

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01N

借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料

G01N21/00

利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料

G01N21/62

所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统

G01N21/66

电激发的，例如电发光

法律状态

2012-04-04 ：

专利权的终止

专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101216509836
IPC(主分类) : G01N 21/66
专利号 : ZL921019009
申请日 : 19920207
授权公告日 : 20030507
期满终止日期 : 20120207

2005-06-22 ：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

变更事项 : 专利权人
变更前 : 伊根有限公司
变更后 : 伊根国际有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 美国马利兰州
变更后 : 美国马利兰州
变更事项 : 共同专利权人
变更前 : 卫材株式会社
变更后 : 卫材株式会社

2005-06-22 ：

专利申请权、专利权的转移专利权的转移

变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 伊根国际有限公司
变更后权利人 : 拜奥维里斯公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国马利兰州
变更后权利人 : 美国马里兰州
变更事项 : 共同专利权人
变更前权利人 : 卫材株式会社
变更后权利人 : 卫材株式会社
登记生效日 : 20050513

2003-05-07 ：

授权

1994-05-25 ：

实质审查请求的生效

1992-10-14 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

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