测量涂层状态的方法和设备
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明以平行光照射涂层光纤的侧面，用带有聚光透镜和针孔的图象传感器检测被树脂部分的外表面反射到一个特定方向的光束及被树脂部分和玻璃部分之间界面而反射到与该特定方向平行的方向上的光束。测量出表面反射光束和界面反射光束的间距d2及对应这些反射光束的入射光束间距d1。根据这样测定的d1和d2来估计涂层状态。
基本信息
专利标题 ：
测量涂层状态的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1065929A
申请号 ：
CN92102565.3
公开（公告）日 ：
1992-11-04
申请日 ：
1992-04-11
授权号 ：
CN1031959C
授权日 ：
1996-06-05
发明人 ：
井上享小林勇仁筱木秀次
申请人 ：
住友电气工业株式会社
申请人地址 ：
日本大阪
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
范本国
优先权 ：
CN92102565.3
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2005-06-08 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-06-12 ：
其他有关事项
1996-06-05 ：
授权
1992-12-23 ：
实质审查请求已生效的专利申请
1992-11-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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