时间常数检测电路和时间常数调整电路
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提供在LSI中的时间常数检测电路，以检测在LSI中作为时间常的电阻和电容元件值的变化。模拟开关1和3在周期T(秒)内分别交替地接通和断开，以控制电容2的充放电。电容2的电容量C形成电阻Rp＝T/C的伪电阻6，预定DC电压Vout被伪电阻6和普通电阻4的串联电路分压并被电容5平滑。在输出端7出现的平滑输出电压Vout由时间常数τ＝1/RC唯一地确定，故在LSI中的电阻和电容的变化可通过测量Vout检测。
基本信息
专利标题 ：
时间常数检测电路和时间常数调整电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1077800A
申请号 ：
CN92115244.2
公开（公告）日 ：
1993-10-27
申请日 ：
1992-12-25
授权号 ：
CN1036096C
授权日 ：
1997-10-08
发明人 ：
市原正贵
申请人 ：
日本电气株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
肖掬昌
优先权 ：
CN92115244.2
主分类号 ：
G01R27/00
IPC分类号 ：
G01R27/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
法律状态
2006-02-22 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2002-06-12 ：
其他有关事项
1997-10-08 ：
授权
1995-03-15 ：
实质审查请求的生效
1993-10-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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