非接触位置检测设备
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
非接触型位置检测设备，包括带有光发射部分和光接收部分的激光单元，用于将激光照射到被测对象的检测点并接收由该检测点反射的激光，以判明至该检测点的距离。一条能使激光单元至少在直角坐标系的一条轴线方向上移动的臂。坐标检测机构，用于检测此臂的坐标。当该检测点和激光单元间的位置关系达到预定关系时，依此臂的坐标判定该检测点的坐标。激光单元含类似探针的指示件，用以指示由光发射部分发出的激光光轴延长线和由光接收部分接收的激光光轴延长线间的交点。
基本信息
专利标题 ：
非接触位置检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1078550A
申请号 ：
CN93102981.3
公开（公告）日 ：
1993-11-17
申请日 ：
1993-03-24
授权号 ：
CN1038530C
授权日 ：
1998-05-27
发明人 ：
高木清栗原敏雄桑畑正市大森和夫远山敦实大庭威
申请人 ：
本田技研工业株式会社
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
王岳
优先权 ：
CN93102981.3
主分类号 ：
G01B11/24
IPC分类号 ：
G01B11/24
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2000-05-10 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-05-27 ：
授权
1995-06-14 ：
实质审查请求的生效
1993-11-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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