一种沉降天平
专利申请的视为撤回
摘要
一种沉降天平，是在光学分析天平加码架处改设为沉降加码架，并在横梁左端阻尼盒下方，设置一个由沉降筒和沉降盘构成的沉降承受器而成，该天平专用于测试粉体粒度大小及其分布状况。这种沉降天平结构简单，精确度高，操作方便，每人每天可测试12～18个试样，省电省试样，安全可靠，无粉尘污染，适用于工业常规测试5～1200μm粒度粉体和科学研究。
基本信息
专利标题 ：
一种沉降天平
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1086013A
申请号 ：
CN93103135.4
公开（公告）日 ：
1994-04-27
申请日 ：
1993-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
连嗣南
申请人 ：
连嗣南
申请人地址 ：
325614浙江省乐清县雁荡响岭头
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
崔勇才
优先权 ：
CN93103135.4
主分类号 ：
G01N15/02
IPC分类号 ：
G01N15/02 G01G1/18
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/02
测试颗粒的粒度或粒经分布
法律状态
1996-10-30 ：
专利申请的视为撤回
1994-04-27 ：
公开
1994-04-20 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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