用于绝对位置测量的测量装置

专利权的终止

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摘要

本发明公开了用于绝对位置测量的测量装置，它包括位移传感器、解调器、相位检测器、复合电路和显示部分。

基本信息

专利标题：

用于绝对位置测量的测量装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1086309A

申请号：

CN93117701.4

公开（公告）日：

1994-05-04

申请日：

1993-09-14

授权号：

CN1034973C

授权日：

1997-05-21

发明人：

安达聪

申请人：

株式会社三丰

申请人地址：

日本东京都港区芝五丁目31番19号

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

王岳

优先权：

CN93117701.4

主分类号：

G01B7/02

IPC分类号：

G01B7/02 G01D5/24 G01R27/26

相关图片

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01B

长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量

G01B7/00

以采用电或磁的方法为特征的计量设备

G01B7/02

用于计量长度、宽度或厚度

法律状态

2013-11-06 ：

专利权的终止

专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101536329615
IPC(主分类) : G01B 7/02
专利号 : ZL931177014
申请日 : 19930914
授权公告日 : 19970521
期满终止日期 : 20130914

1997-05-21 ：

授权

1994-10-12 ：

实质审查请求的生效

1994-05-04 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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1、

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