检测的玻璃中缺陷
专利申请的视为撤回
摘要
观看十字交叉偏振光照射下的玻璃就地检测回火平板窗玻璃中的应力产生的杂质和其它缺陷。一个光盒通过起偏器照射窗玻璃，利用透射光或反射光通过检偏器观看该窗玻璃。尽管回火玻璃内的固有应力形成光影图案，但可以检测出小杂质的特征性应力图案。应用安装装置上的显微镜可就地仔细检查窗玻璃中的缺陷。利用安装于显微镜投影镜头上的照相机可对杂质作摄影检查。用显微镜聚焦机构上的游标刻度规可测量出玻璃中杂质的深度。
基本信息
专利标题 ：
检测的玻璃中缺陷
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1087424A
申请号 ：
CN93118165.8
公开（公告）日 ：
1994-06-01
申请日 ：
1993-09-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
约翰·巴里罗斯·米勒
申请人 ：
昆士兰大学
申请人地址 ：
澳大利亚昆士兰州
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人 ：
陆立英
优先权 ：
CN93118165.8
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
1996-08-14 ：
专利申请的视为撤回
1994-06-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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