一种操作简便的高精度大内径测量装置
专利权的视为放弃
摘要
本发明涉及一种操作简便的高精度大内径测量装置，该测量装置由激光器、光学测量头、反射头和信号处理及显示装置组成。光学测量头用磁铁、真空等方法吸附在被测孔壁上，与此对应的另一侧被测孔壁吸附有反射头。由激光器出射的光束一路为测量光束，另一路为参考光束，测量光束经反射头反射，最后射入光学测量头中的探测器，参考光束经电光频移器、反射棱镜等以后，入射到光学测量头的探测器上，二束光产生外差干涉信号，该信号经处理后，即可得出被测内径。
基本信息
专利标题 ：
一种操作简便的高精度大内径测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1095476A
申请号 ：
CN94101494.0
公开（公告）日 ：
1994-11-23
申请日 ：
1994-03-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李彬梁晋文赵洋刘兴占
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
100084北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
罗文群
优先权 ：
CN94101494.0
主分类号 ：
G01B11/12
IPC分类号 ：
G01B11/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
G01B11/12
内径
法律状态
2000-11-08 ：
专利权的视为放弃
1994-11-23 ：
公开
1994-11-16 ：
实质审查请求的生效
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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