用于低剂量扫描束数字X-光成像系统的X-光探测器
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要

本发明的一种扫描束X-光成像系统包括一个X-光管(10),该X-光管包括一个电子束源(161)和一个阳极靶(50)。有一电路用于将束(164)聚焦,并在阳极靶(50)上按预定的图案,如螺旋扫描图案用束(20、30)进行扫描。在X-光源(50)与被用X-光检测的物体(80)之间设置了准直元件(90),其可取的是为包含一个孔的阵列的多孔光栅的形式。孔(140)都是定向的,以使X-光束(100)被汇聚到位于与准直元件(90)选定距离的一个平面(270)处的一个探测器阵列(110)。这个距离是经过选择的,以使被X-光检测的物体可以放置在准直元件(90)和探测器阵列(110)之间。分区X-光探测器阵列(110)包括由位于探测平面(270)中的探测器单元(170)构成的方形阵列。在距X-光源(50)特定的,经选择的距离处可生成一个能够具有最佳分辨率的焦平面(280)。

基本信息
专利标题 :
用于低剂量扫描束数字X-光成像系统的X-光探测器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1127553A
申请号 :
CN94192143.3
公开(公告)日 :
1996-07-24
申请日 :
1994-04-05
授权号 :
CN1041237C
授权日 :
1998-12-16
发明人 :
J·W·韦伦特J·W·穆尔曼B·施基里科恩P·J·菲考斯基V·韦伦特
申请人 :
卡迪亚航海者公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
王勇
优先权 :
CN94192143.3
主分类号 :
G01T1/164
IPC分类号 :
G01T1/164  G01T1/20  G01T1/24  G21K4/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/161
在核医学领域的应用,例如,人体内的计数
G01T1/164
闪烁照相法
法律状态
2005-06-08 :
专利权的终止未缴年费专利权终止
1998-12-16 :
授权
1996-07-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332