过程光度计
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种过程光度计,包括隔热和非隔热的舱室。在保持相对恒定高温下的隔热舱室内设置了下述部件:调制辐射源;检测辐射相位并产生脉冲的装置;输出光纤;可固定光纤的一端的连接器;具有滤光片的可转滤光轮;可使滤光轮旋转预定距离的装置;将辐射中继到滤光片上的返回光纤;检测穿过滤光片的辐射的辐射检测器;低噪音地放大辐射检测器输出的前置放大器;使放大器输出和辐射相位脉冲的检测同步的锁定放大器;将锁定放大器的模拟输出转换成数字输出的装置;保持舱室中相对恒定温度的装置;以及通过将上述部件保持在正确位置以将它们固定在隔热舱室中的装置。非隔热舱室包含电源。滤光轮运动控制装置可定位在隔热舱室中、非隔热舱室中或它们之外。
基本信息
专利标题 :
过程光度计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1793845A
申请号 :
CN200510003556.7
公开(公告)日 :
2006-06-28
申请日 :
2005-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
R·N·亨特A·赫特里M·R·维拉
申请人 :
拜尔材料科学有限责任公司
申请人地址 :
美国宾夕法尼亚州
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
赵辛
优先权 :
CN200510003556.7
主分类号 :
G01N21/27
IPC分类号 :
G01N21/27 G01N21/31 G01J1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2010-03-24 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-12-05 :
实质审查的生效
2006-06-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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