利用光辐射功率测距的装置和方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种利用光辐射功率测距的装置及方法。由光学系统和电路系统两大部分组成。光学系统由一个光学聚焦透镜、一个激光发射器和两只光敏元件构成。光学系统实现像点沿光轴方向的位置变量转换为相应的光辐射面积变量,并将面积变量通过光敏元件转换为光功率。电路系统完成光源的调制与控制及检测光敏元件的光辐射功率和距离的计算。
基本信息
专利标题 :
利用光辐射功率测距的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1837749A
申请号 :
CN200510022454.X
公开(公告)日 :
2006-09-27
申请日 :
2005-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曾辉宇
申请人 :
曾辉宇
申请人地址 :
610031四川省成都市青羊区万和路9号二单元42号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200510022454.X
主分类号 :
G01C3/00
IPC分类号 :
G01C3/00 G01C3/32
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01C
测量距离、水准或者方位;勘测;导航;陀螺仪;摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量;光学测距仪
法律状态
2010-01-13 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-11-22 :
实质审查的生效
2006-09-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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