快速测量光谱的分光光度计
专利权的终止
摘要
一种快速测量光谱的分光光度计,包括一光源,在该光源输出的主光路上,依次是分光光度系统,色轮,第三反射镜,凹面反射镜,衍射光栅,狭缝和接收器,该接收器的输出端接一数据处理及控制器,其特征在于:所述的光源由一宽光谱卤钨灯、一氘灯和在光源输出光路的切换式第一半透半反镜构成,所述的狭缝位于所述的光源和第二半透半反镜之间,在所述的狭缝和第二半透半反镜之间还有一准直组合透镜;所述的凹面反射镜和所述的接收系统之间还有一会聚透镜;所述的接收器是一列阵CCD。本发明快速测量光谱的分光光度计的特点是能一次测量一个波长范围的光谱,可快速,精确的给出样品的光谱曲线,可以实现样品的实时测量。
基本信息
专利标题 :
快速测量光谱的分光光度计
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1752739A
申请号 :
CN200510031026.3
公开(公告)日 :
2006-03-29
申请日 :
2005-10-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
傅小勇易葵朱美萍王丹申雁鸣毕军邵建达范正修
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200510031026.3
主分类号 :
G01N21/25
IPC分类号 :
G01N21/25 G01J3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
法律状态
2012-12-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101368717592
IPC(主分类) : G01N 21/31
专利号 : ZL2005100310263
申请日 : 20051021
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20111021
号牌文件序号 : 101368717592
IPC(主分类) : G01N 21/31
专利号 : ZL2005100310263
申请日 : 20051021
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20111021
2009-01-14 :
授权
2006-05-24 :
实质审查的生效
2006-03-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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