纳米流体导热率测试装置

专利权的终止

摘要

本发明公开了一种纳米流体导热率测试装置。在底座上安装有4个量热器，量热器上端设有压紧盖，并用压紧螺杆、紧锁螺母固定；量热器具有样品容器，在样品容器上端设有上端盖、上端盖密封圈，在样品容器下端设有下端盖、下端盖密封圈，上端盖上设有两个接线柱，接线柱上端接有引出导线，接线柱下端经细铜丝与铂丝相接，铂丝缠绕在云母片上。本发明利用惠斯通电桥作为测试电路。测试时把整个装置置于恒温油槽中，用精密数据采集器测得两根铂丝的电压差，根据液体导热率公式，即可得纳米流体的导热率。该装置结构紧凑扎实、操作方便，效率是一般装置的两倍。

基本信息

专利标题：

纳米流体导热率测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1769877A

申请号：

CN200510060947.2

公开（公告）日：

2006-05-10

申请日：

2005-09-29

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

彭小飞俞小莉夏立峰钟勋

申请人：

浙江大学;浙江银轮机械股份有限公司

申请人地址：

310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司

代理人：

张法高

优先权：

CN200510060947.2

主分类号：

G01N25/20

IPC分类号：

G01N25/20 G01N27/18