本发明公开了一种样品室温度可控的分光光度计。从灯源发出的宽光谱光束，经双调制盘、单色仪、滤光片、偏振器变成单光波长偏振光束，经加热装置变成探测光射入光电探测器；加热装置定位在可旋转的样品台上，样品台通过转轴与探测器转臂相连，光电探测器在探测器转臂的另一侧，探测器转臂通过步进电机驱动，光度计由控制器控制；本发明解决了一般的分光光度计无法测量某一恒定温度下光学样品透、反射特性或透、反射特性随温度变化的难题。该装置适用于对使用温度要求较高的光学元件如光学薄膜等的透、反射率测量。