基于长周期光纤光栅对传感器的双参量测量方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及了一种基于长周期光纤光栅对传感器的双参量测量的方法。目前还没有人提出一种高效廉价的LPGP传感器的双参量测量方法。本发明中宽带光通过LPGP，产生一个由光纤芯层包层折射率差引起的光程差，该光程差被一个可扫描的麦克尔逊干涉仪补偿并得到干涉条纹。干涉条纹的强度主要对LPGP的曲率敏感，对干涉条纹进行傅氏变化可得到LPGP中长周期光纤光栅光谱损耗峰的中心波长，该波长位置主要对温度信号敏感。从而完成LPGP传感器的双参量信号获取。另外通过利用矩阵法来消除参量之间的交叉影响。本发明具有成本低廉的优点，适合集成化和仪器化。

基本信息

专利标题：

基于长周期光纤光栅对传感器的双参量测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1776374A

申请号：

CN200510061695.5

公开（公告）日：

2006-05-24

申请日：

2005-11-25

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

管祖光何赛灵

申请人：

浙江大学

申请人地址：

310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司

代理人：

杜军

优先权：

CN200510061695.5

主分类号：

G01D5/353

IPC分类号：

G01D5/353