一种X光烟丝填充值测量方法及其装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本发明涉及一种X光烟丝填充值测量方法及其装置,包括安装支架、烟丝测厚装置、烟丝输送装置、控制处理系统,其中,所述烟丝测厚装置设置在所述安装支架上、位于所述烟丝输送装置的上方且与所述控制处理系统相连接,其特征在于,还包括设置在所述安装支架上的X光源及X光探测器;其中,所述X光源与X光探测器相对应地设置在所述烟丝输送装置的上、下方或下、上方;所述X光探测器与所述控制处理系统相连接;所述控制处理系统根据所述烟丝测厚装置测出的烟丝厚度及所述X光探测器的输出信号来计算所述烟丝填充值。本发明的X光烟丝填充值测量方法及装置测量准确度高,能测量负荷更小、更轻的物料,且易于防护,即使有遗失也不会造成人身伤害。

基本信息
专利标题 :
一种X光烟丝填充值测量方法及其装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1967222A
申请号 :
CN200510086912.6
公开(公告)日 :
2007-05-23
申请日 :
2005-11-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邸生才
申请人 :
邸生才
申请人地址 :
100037北京市西城区百万庄大街中里2号楼5门402室
代理机构 :
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 :
梁挥
优先权 :
CN200510086912.6
主分类号 :
G01N23/02
IPC分类号 :
G01N23/02  G06F19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2015-07-08 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101717617535
IPC(主分类) : G01N 9/00
专利号 : ZL2005100869126
变更事项 : 专利权人
变更前 : 北京邦瑞达测控设备有限责任公司
变更后 : 北京邦瑞达机电设备股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 102200 北京市昌平区科技园区华通路11号309室
变更后 : 102200 北京市昌平区科技园区华通路11号309室
2015-05-13 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101715221404
IPC(主分类) : G01N 9/00
专利号 : ZL2005100869126
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 邸生才
变更后权利人 : 北京邦瑞达测控设备有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 100037 北京市西城区百万庄大街中里2号楼5门402室
变更后权利人 : 102200 北京市昌平区科技园区华通路11号309室
登记生效日 : 20150424
2015-05-06 :
文件的公告送达
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101714728794
IPC(主分类) : G01N 9/00
专利号 : ZL2005100869126
专利申请号 : 2005100869126
收件人 : 邸生才
文件名称 : 视为未提出通知书
2011-10-26 :
授权
2007-07-18 :
实质审查的生效
2007-05-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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