X光透射支撑装置及X光无损探伤测试机
授权
摘要
本实用新型公开了一种X光透射支撑装置，其包括支撑底板；所述支撑底板的中部开设有贯穿所述支撑底板的窗孔；麦拉薄膜，位于所述支撑底板上；所述麦拉薄膜覆盖所述窗孔；压圈板，用于将所述麦拉薄膜的外缘压紧在所述支撑底板上；以及绷紧圈板，用于张紧所述麦拉薄膜以形成绷紧的平滑平面；所述绷紧板设置在所述压圈板上。上述X光透射支撑装置，采用绷紧的麦拉薄膜，减少X了光的损失，不会对X射线无损探伤测试机的测试结果产生噪音，不会导致分析问题的方向产生偏差，节省了人力和物力的资源。另外，其结构紧凑，使用方便，可更换性好。本实用新型还提供了一种X光无损探伤测试机。
基本信息
专利标题 ：
X光透射支撑装置及X光无损探伤测试机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921327008.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-15
授权号 ：
CN211043195U
授权日 ：
2020-07-17
发明人 ：
张斌尤伟蒋晓莹
申请人 ：
达格测试设备（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区建林路666号(出口加工区配套工业园7栋)
代理机构 ：
宁波高新区核心力专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
尤莹
优先权 ：
CN201921327008.3
主分类号 ：
G01N23/02
IPC分类号 ：
G01N23/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
法律状态
2020-07-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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