一种电子元件X光无损检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种电子元件X光无损检测装置,包括第一升降机构、第二升降机构、平移机构、X光发射器、X光接收器、载物台。第一升降机构位于平移机构的上方;第二升降机构位于平移机构的下方。X光接收器装设在第一升降机构上。X光发射器装设在第二升降机构上。载物台装设在平移机构上。第一升降机构包含第一升降滑轨、第一升降驱动电机、摆动驱动电机、横梁。摆动驱动电机通过第二传动组件与旋转轴相连接。摆动驱动电机带动第一升降滑轨在横梁上左、右倾斜,从而调整X光接收器相对于载物台的角度,实现对待测电子元件的多角度检测,操作简单、节省检测时间,提高了电子元件的检测效率。
基本信息
专利标题 :
一种电子元件X光无损检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020052888.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-01-10
授权号 :
CN211402201U
授权日 :
2020-09-01
发明人 :
谢光红赵红艳
申请人 :
深圳市康姆智能装备有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区经盛工业区5号3层
代理机构 :
深圳倚智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
霍如肖
优先权 :
CN202020052888.4
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2020-09-01 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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