免标定中子水分测量方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

免标定中子水分测量方法:包括利用快中子和γ射线在输送带上在线同时检测物料的水分和堆密度,测堆密度是用γ射线透射的方法,用测堆密度的参数对水分值测量进行校正,对有物料和无物料时都用快中子和γ射线进行测量,得到如下数据:N1-被物料吸收后快中子计数;N10-无物料时快中子计数;N2-被物料吸收后γ射线计数;N 20-无物料时γ射线计数;可以计算水分值m,堆密度ρ和修正后的水分值。该免标定中子水分计是由水分和堆密度联合测量组成的装置,适用于输送带上在线测量物料经堆密度修正后的水分值。有利于物料净价的计算。

基本信息
专利标题 :
免标定中子水分测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1773267A
申请号 :
CN200510095348.4
公开(公告)日 :
2006-05-17
申请日 :
2005-11-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘圣康
申请人 :
南京大学
申请人地址 :
210093江苏省南京市汉口路22号
代理机构 :
南京天翼专利代理有限责任公司
代理人 :
汤志武
优先权 :
CN200510095348.4
主分类号 :
G01N23/09
IPC分类号 :
G01N23/09  G01N23/06  G06F19/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/09
辐射是中子
法律状态
2009-07-01 :
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-07-12 :
实质审查的生效
2006-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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