中子水分仪
被视为撤回的申请
摘要
一种中子水分仪，它将镅-镀中子源和铯γ射线源同时装入一个探头内，用锂玻璃闪烁体和低噪声光电倍增管测量中子和γ射线。该水分仪可以测量稀土元素含量较高的物料中的水分。γ密度补偿系统采用通过改变接收信号阈值来改变γ射线计数以补偿由于密度变化而使中子计数的变化，从而使系统大大简化。在微机智能化系统中设计了降低因放射源衰变统计涨落而造成的测量误差的软件。
基本信息
专利标题 ：
中子水分仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87102356A
申请号 ：
CN87102356
公开（公告）日 ：
1988-11-02
申请日 ：
1987-03-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘元襄陈祥潘殿福秦培友
申请人 ：
核工业部大连应用技术研究所
申请人地址 ：
辽宁省大连市21信箱45分箱
代理机构 ：
核工业部专利法律事务所
代理人 ：
张英光
优先权 ：
CN87102356
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
1990-07-18 ：
被视为撤回的申请
1988-11-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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