氢气还原测汞仪
发明专利申请公布后的撤回
摘要
本发明属于汞分析系统。本装置是采用在气相中用氢气还原汞化物成汞原子蒸气的原理制造出的一种新型测汞仪。可应用于科研、生产和环境监测中的总汞、有机汞和无机汞分析，其检测极限为1×10－11克汞，具有灵敏度高操作方便，抗干扰快速等特点。
基本信息
专利标题 ：
氢气还原测汞仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1971249A
申请号 ：
CN200510101570.0
公开（公告）日 ：
2007-05-30
申请日 ：
2005-11-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄振杰
申请人 ：
黄振杰
申请人地址 ：
528200广东省佛山市南海区桂城叠南圣堂村
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200510101570.0
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01N31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2008-10-22 ：
发明专利申请公布后的撤回
2007-05-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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