一种荧光测汞仪
授权
摘要
本实用新型提供了一种荧光测汞仪，包括：箱体，该箱体为双层结构，包括底层和顶层，所述底层和所述顶层通过底板相隔，底层，包括两侧板、后盖板和底座，侧板垂直设于底座的两侧，后盖板垂直设于底座上且两侧分别与两侧板相接，所述底座的上方还垂直设有可打开或关闭的前门，顶层，设于底层，顶层的上部还设有可沿侧边打开或闭合的上盖和遮光筒，遮光筒与顶层和外部联通；元素灯，设于顶层上且通过底杆套筒与底板固定，元素灯的端部对准荧光炉头炉体，元素灯之间设有倍增管通过倍增管底座与底板固定。本实用新型具有结构合理、测试效果和操作效果好的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种荧光测汞仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921395591.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-26
授权号 ：
CN210639088U
授权日 ：
2020-05-29
发明人 ：
马涛张振宇顾豪杰吕兆伟王康龙
申请人 ：
浙江谱创仪器有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市南湖区汇信路193号
代理机构 ：
嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王家蕾
优先权 ：
CN201921395591.1
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2020-05-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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