透光薄膜瑕疵的检验方法

发明专利申请公布后的视为撤回

摘要

本发明涉及一种透光薄膜瑕疵的检验方法，该方法包括下列步骤：提供一测试图样；利用影像传感器透过待检验透光薄膜拍摄得到该测试图样的影像；分析该影像的分辨率；比较该影像的分辨率和透过标准透光薄膜拍摄得到的该测试图样影像的分辨率，若比较结果在规定范围内则该待检验透光薄膜为合格品，反之为非合格品。

基本信息

专利标题：

透光薄膜瑕疵的检验方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1971256A

申请号：

CN200510101779.7

公开（公告）日：

2007-05-30

申请日：

2005-11-25

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

张维中

申请人：

鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

申请人地址：

518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200510101779.7

主分类号：

G01N21/958

IPC分类号：

G01N21/958