一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置
授权
摘要
本实用新型提供了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。采用本实用新型的技术方案，极大的提升了检验灵活性与准确性，并且易于更新和维护。
基本信息
专利标题 ：
一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022435672.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-28
授权号 ：
CN213516920U
授权日 ：
2021-06-22
发明人 ：
刘骏张啸宇
申请人 ：
深圳宇骏视觉智能科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市明区凤凰街道塘家社区光明高新产业园观光路以南、邦凯路以西邦凯科技工业园4#厂房六层-A603
代理机构 ：
深圳市海盛达知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
赵雪佳
优先权 ：
CN202022435672.9
主分类号 ：
G01N21/89
IPC分类号 ：
G01N21/89
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
法律状态
2021-06-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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