一种芯片的外观瑕疵检测装置
授权
摘要

本实用新型涉及芯片技术领域,且公开了一种芯片的外观瑕疵检测装置,包括机架丝印、报警灯、显示器、触摸屏、控制按键和脚杯脚轮,所述机架丝印的内部设置有传动检测机构,所述传动检测机构包括安装在机架丝印内部的安装板,所述安装板上表面的两侧分别固定连接有第一固定座和第二固定座,所述第一固定座和第二固定座上表面的两侧分别固定连接有第一侧板和第二侧板。该芯片的外观瑕疵检测装置,通过第一调宽机构、第二调宽机构、同步机构、第一检测机构、第二检测机构和第二下检测机构等结构的设置,芯片与引线框架安装后的产品可以通过传动检测机构的自动检测取代传统的通过人工肉眼检测的方式。

基本信息
专利标题 :
一种芯片的外观瑕疵检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122589965.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-27
授权号 :
CN216646288U
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
郑明国
申请人 :
郑明国
申请人地址 :
福建省漳州市龙海市九湖镇林前村林前59号
代理机构 :
广州汇航专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
潘婷
优先权 :
CN202122589965.7
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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