本实用新型公开了一种芯片外观检测设备。本实用新型的技术方案是：包括机架，机架上设置有上料机构、引脚检测机构、字符检测机构、挑料机构以及下料机构；引脚检测机构包括可变距吸嘴模块以及针脚检测相机组，可变距吸嘴模块包括若干个并排设置的吸嘴；字符检测机构包括能够夹持住萃盘的X轴输送模块以及携带有字符检测相机的Y轴行走模块；挑料机构包括连接有挑料吸头的XYZ轴行走模块、与X轴输送模块连通的下料输送带以及萃盘放置区；下料机构包括下料输送带以及设置在下料输送带末端的萃盘收集区，萃盘收集区包括自动复位卡扣以及设置在萃盘收集区下部且能够顶升萃盘的顶升模块。本实用新型提供的方案自动化程度高且检测效率高。