本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别是涉及一种芯片外观检测机构。该芯片外观检测机构包括基座、第一驱动组件、光源升降组件、光源组件、第二驱动组件、相机以及相机升降组件；第一驱动组件安装于基座，光源升降组件与第一驱动组件连接，光源组件安装于光源升降组件，第二驱动组件安装于基座，相机升降组件与第二驱动组件连接，相机安装于相机升降组件；当相机检测到不满足芯片外观检测条件时，第一驱动组件能够带动光源升降组件运动，以调节光源组件的高度；及/或，第二驱动组件能够带动相机升降组件运动，以调节相机的高度。本实用新型的优点在于：能够进行自动化调节、适应性强、结构简单、通用性好且成本低。