本实用新型公开了一种检测效率高的芯片外观检测装置，包括安装块，所述安装块的下端设有第一插槽，所述第一插槽内滑动插设有支撑板，所述支撑板的下端贯穿第一插槽，所述支撑板内插设有螺杆，所述螺杆与支撑板之间为螺纹连接，所述螺杆的上端依次贯穿支撑板与安装块，所述螺杆与安装块之间为转动连接，所述安装块的一侧设有检测设备本体，所述检测设备本体靠近安装块的一侧设有支撑块，所述支撑块的上端设有第二插槽，所述第二插槽内滑动插设有限位块，所述限位块的上端贯穿第二插槽并固定连接有连接块。本实用新型通过限位与调节机构的设置，实现角度与高度快速调节，并且便于安装拆卸，从而提高检测效率。