一种检测效率高的芯片检测装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种检测效率高的芯片检测装置,包括固定座,所述固定座顶部的中心处固定连接有放置台,所述固定座内腔底部的中心处固定安装有电机,所述电机的右侧固定连接有转杆,所述转杆的表面套设有第一齿轮,所述第一齿轮的表面啮合有链条。本实用新型通过在原有的机械零件基础上增加电机、第一齿轮、链条、转杆、第二齿轮、螺纹套、螺纹杆、滑板、推杆、活动杆、销轴、支撑杆和限位夹板,便于夹紧稳固,防止在检测的过程中芯片出现晃动,从而使得检测效率大大降低,通过增加气缸和滑动板,便于调节检测距离,防止因距离不够,使得检测的结果出错,同时解决了现有的芯片检测装置检测效率不高的问题。

基本信息
专利标题 :
一种检测效率高的芯片检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123255351.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
CN216560896U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
张克芹王小波
申请人 :
无锡科瑞泰半导体科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区震泽路18号无锡软件园巨蟹座A栋1-102室
代理机构 :
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
杨强
优先权 :
CN202123255351.1
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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