一种基于机器视觉的芯片外观检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，且公开了一种基于机器视觉的芯片外观检测装置，包括工作台和检测装置，检测装置包括可上下进行调节高度的第一调节机构、可前后调节位置的第二调节机构、可左右调节位置的第三调节机构和检测设备主体，第一调节机构安装在工作台上，第二调节机构安装在第一调节机构上，第三调节机构安装在第二调节机构上。该基于机器视觉的芯片外观检测装置，在工作台安装的检测装置，包括可上下进行调节高度的第一调节机构、可前后调节位置的第二调节机构、可左右调节位置的第三调节机构和检测设备主体，使检测设备主体在使用时便于进行高度调节，且可以进行前后左右移动调整，便于调节。
基本信息
专利标题 ：
一种基于机器视觉的芯片外观检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122549995.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-22
授权号 ：
CN216747471U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
张誉瀚
申请人 ：
贵州中芯微电子科技有限公司
申请人地址 ：
贵州省贵阳市清镇市站街镇下高枧组清镇经济开发区电子信息产业园1号
代理机构 ：
深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司
代理人 ：
罗炳锋
优先权 ：
CN202122549995.5
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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