芯片视觉检测设备
授权
摘要
本实用新型涉及一种芯片视觉检测设备，料盘自动上下料装置对装有芯片的料盘或者空料盘进行自动上下料；在上料装置和下料装置的下方设置转盘装置，转盘装置在上料装置和下料装置之间对芯片进行流转；在转盘装置的转盘上方，在转盘的两侧对称依次设置碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置；主控系统控制转盘装置依次旋转至碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置的下方；在转盘装置流转工位时，对芯片进行检测；通过芯片视觉检测设备自动化视觉检测，对产品的外观、焊接品质等项目进行检测，挑选出不合格产品，并且可以对检测图像可追溯管理。
基本信息
专利标题 ：
芯片视觉检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122403907.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-30
授权号 ：
CN216174313U
授权日 ：
2022-04-05
发明人 ：
叶明华
申请人 ：
上海行芝达智能装备技术有限公司
申请人地址 ：
上海市宝山区呼兰西路60弄9号301-1室
代理机构 ：
上海裕创慧成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄裕
优先权 ：
CN202122403907.0
主分类号 ：
B07C5/00
IPC分类号 ：
B07C5/00 B07C5/02 B07C5/38
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
法律状态
2022-04-05 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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