一种基于视觉的LED芯片质量检测方法包括：工业相机获取LED芯片图像，对图像采取自适应阈值化处理，LED芯片图像基于连通域提取边缘轮廓点，对边缘轮廓点进行筛选通过最小二乘法拟合椭圆，对椭圆做逆尺度变换得到放大后的LED椭圆轮廓图像，截取感兴趣区域图像，计算不同情况下的分割阈值，分割后的图像进行膨胀处理，膨胀处理后的图像进行形态学闭运算消除细小孔洞，对孔洞区域进行连通域标记，设定阈值剔除小于阈值的区域，检测灯珠损坏区域，显示损坏区域轮廓，从而检测LED芯片质量。本发明优点在于测试精准，测试过程中对芯片电极不造成损伤,节约人工成本，降低产品误检率，提高生产效率和企业利润。