视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种视觉缺陷检测的数据处理方法,包括当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时,通过线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射待测物的图像数据;将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间;将各个缓存空间的图像数据上传至上位机,以便上位机基于同一光场对应的图像数据拼接形成待测物的检测图像并进行待测物的缺陷分析。本申请中对待测物的同一位置的不同光场均进行一组图像数据的采集,避免因光照不合理导致缺陷在图像中显现不明显的问题;并将图像数据按照不同光场进行分区存储,减少了上位机的运算量。本申请还公开了一种视觉缺陷检测的数据处理装置、FPGA芯片以及视觉缺陷检测系统。

基本信息
专利标题 :
视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460094A
申请号 :
CN202210121439.4
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-02-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李明
申请人 :
湖南迪普视智能科技有限公司
申请人地址 :
湖南省长沙市长沙经济技术开发区螺丝塘路1号、3号德普五和企业园一期6栋403
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
张艺
优先权 :
CN202210121439.4
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  G06F15/78  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20220209
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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