一种DMD芯片质量检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种DMD芯片质量检测系统，包括依次连接的逻辑控制芯片、DLP控制芯片和待检测DMD芯片；在待检测DMD芯片的电源接口还设有电流检测模块，电流检测模块用于采集微镜翻转后DMD芯片上的电流，其还连接电流处理模块；电流处理模块包括依次连接的I/V转换模块、减法电路模块和信号放大模块；I/V转换模块将电流转换为电压信号，经减法电路模块，得到电压差值，经信号放大模块后输出放大信号，经A/D转换模块传输到逻辑控制芯片；逻辑控制芯片做出判断，提示工作人员；本系统能够实现DMD芯片的快速检测，具有成本低、效率高的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种DMD芯片质量检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021761348.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-08-21
授权号 ：
CN212965295U
授权日 ：
2021-04-13
发明人 ：
吕猛张华东穆港秦凤滨张敬坡郭孟宇
申请人 ：
易思维（杭州）科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021761348.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-13 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
