检测芯片及检测系统
授权
摘要
一种检测芯片和检测系统，该检测芯片包括加样开口和至少一个检测分支结构。至少一个检测分支结构中的每个包括导流槽、检测部和反应膜；导流槽具有第一端和第二端，第一端与加样开口连通；检测部包括检测凹槽，检测凹槽与导流槽的第二端连通；反应膜容纳在检测凹槽中；检测凹槽被配置为允许对位于检测凹槽中的反应膜进行光学检测。该检测芯片可有助于实现自动化检测，并可有助于实现便于携带的检测装置。
基本信息
专利标题 ：
检测芯片及检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922055403.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-22
授权号 ：
CN211014324U
授权日 ：
2020-07-14
发明人 ：
赵静张玙璠袁春根安光明
申请人 ：
京东方科技集团股份有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区酒仙桥路10号
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
彭久云
优先权 ：
CN201922055403.7
主分类号 ：
G01N35/00
IPC分类号 ：
G01N35/00 G01N35/10 B01L3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析；及材料的传送
法律状态
2020-07-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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