开尔文检测电路和芯片测试系统

授权

摘要

本实用新型涉及一种开尔文检测电路和芯片测试系统。本实用新型中，多路电路臂与被测器件端口一一对应，每路所述电路臂由两路子电路构成，所述两路子电路的输出端连接端与被测器件的同一端口连接，另一端为开放端；所述两路子电路的开放端分别对应为所述开尔文检测电路的驱动端和感测端；开关电路设置于测试板转接板，用于在检测阶段，选定两路所述电路臂，并将选定的每一所述电路臂中的所述两路子电路短路，然后将选定的两路所述电路臂连接至所述被测器件的同一端口，构成测试回路。

基本信息

专利标题：

开尔文检测电路和芯片测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020072129.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-14

授权号：

CN211905585U

授权日：

2020-11-10

发明人：

李朔男张杰金晔王钢陶银娇

申请人：

北京华峰测控技术股份有限公司

申请人地址：

北京市丰台区海鹰路1号院2号楼7层

代理机构：

北京华进京联知识产权代理有限公司

代理人：

魏朋

优先权：

CN202020072129.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28