一种开尔文连接电路的测试电路
授权
摘要
本实用新型提供一种开尔文连接电路的测试电路，测试电路包括：N路电路臂，N的值与被测器件端口数量对应；每路电路臂由两路子电路构成，所述两路子电路的连接端分别与被测器件的同一端口连接，另一端为开放端；所述两路子电路的开放端分别对应为开尔文连接电路的驱动端和感测端；所述两路子电路上的等效电阻分别为驱动端等效电阻、感测端等效电阻；所述N路电路臂对应N路开尔文连接电路；至少一电流恒流源、电压表，所述电流恒流源、电压表至少两次连接到不同所述开放端，获得至少两次电压值，以检测与被测器件的连接性，和/或计算所述等效电阻。在测试设备只使用必要的测试引线与被测器件连接的前提下，实现上述检测。
基本信息
专利标题 ：
一种开尔文连接电路的测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920660524.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-09
授权号 ：
CN210038116U
授权日 ：
2020-02-07
发明人 ：
孙衍翀
申请人 ：
华峰测控技术（天津）有限责任公司
申请人地址 ：
天津市滨海新区安正路179号滨旅产业园二区1号楼2门201
代理机构 ：
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩登营
优先权 ：
CN201920660524.1
主分类号 ：
G01R31/52
IPC分类号 ：
G01R31/52 G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/52
测试短路、泄漏电流或接地故障
法律状态
2020-02-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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