集成电路测试机连接性检测系统
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成电路测试机连接性检测系统，包括接口电路，内部设置有多个连接测试机通道的测试电路，所述测试电路包括：保护电路，用于将待测电路的电压钳制在适当的电压范围内；待测电路，用于接入连接性测试的标准二极管；开路比较电路，用于开路时的电压进行比较及信号灯显示；短路比较电路，用于短路时的电压比较及信号灯显示；导通比较电路，用于导通时的电压比较及信号灯显示，通过本实用新型可实现批量对集成电路的测试，测试更加灵活方便，可用于集成电路测试中。
基本信息
专利标题 ：
集成电路测试机连接性检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921998126.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-19
授权号 ：
CN211826337U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
姜伟伟苏广峰向俊武周游陈小跃陈浩
申请人 ：
安测半导体技术（江苏）有限公司
申请人地址 ：
江苏省扬州市邗江区安桥路1号高新区大楼9楼
代理机构 ：
南京苏科专利代理有限责任公司
代理人 ：
陈栋智
优先权 ：
CN201921998126.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/66 G01R31/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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