集成电路测试卡
专利权的终止
摘要

一种集成电路测试卡,包含:一电路板,多数个接触焊点;一探针组件,一电讯转接板及多数个探针,该电讯转接板界定出电气导通的一第一电讯面及一与之相背的第二电讯面,各探针电气导通于第一电讯面上,第二电讯面与接触焊点电气导通;至少一转向固定组件,一调适单元及一作用单元,调适单元具有一顶撑件及一固接件,顶撑件以一端连接于第二电讯面,另一端则位在电路板上,固接件夹固于位在电路板上的顶撑件,作用单元具有一第一应变块及一与第一应变块相贴接的第二应变块,当电讯转接板与基板之间有平面不平行的歪斜情形时,由第一应变块与第二应变块发生相互的错移,使电讯转接板被稳固地撑在预定的水平位置,在承受外力时亦不会改变位置或变形。

基本信息
专利标题 :
集成电路测试卡
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101021549A
申请号 :
CN200610008526.X
公开(公告)日 :
2007-08-22
申请日 :
2006-02-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
范宏光
申请人 :
旺矽科技股份有限公司
申请人地址 :
台湾省新竹县
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
周国城
优先权 :
CN200610008526.X
主分类号 :
G01R1/073
IPC分类号 :
G01R1/073  G01R1/02  G01R31/28  H01L21/66  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
G01R1/073
多个探针
法律状态
2011-04-20 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101065089129
IPC(主分类) : G01R 1/073
专利号 : ZL200610008526X
申请日 : 20060216
授权公告日 : 20091202
终止日期 : 20100216
2009-12-02 :
授权
2007-10-17 :
实质审查的生效
2007-08-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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